顯微鏡測(cè)量顆粒直徑時(shí)-測(cè)量顆粒投影像的尺寸

    顯微鏡法

    使用顯微鏡可以直接觀測(cè)到顆粒的形狀和大小，可以直接用觀察到的

幾何圖像確定顆粒的尺寸，所以顯微鏡法往往作為其它間接測(cè)定方法的基

準(zhǔn)。這種方法所需的試樣分量不多，靈敏度較高；不僅可以直接觀察，而

且還可以通過拍攝將結(jié)果記錄下來。這些都是其它方法比不上的優(yōu)點(diǎn)。

    另一方面，由于所取的試樣分量很少，所以這種方法對(duì)試樣有無代表

性的要求甚嚴(yán)。同時(shí)對(duì)試樣的制備技術(shù)要求也比較嚴(yán)格。用顯微鏡觀測(cè)顆

粒的尺寸時(shí)，有著許多獨(dú)特的表示方法。因此，充分了解各種顆粒直徑的

意義便顯得格外重要。

    使用顯微鏡測(cè)量顆粒直徑時(shí)，通常都是測(cè)量顆粒投影像的尺寸。除了

必須測(cè)量厚度的特殊情況之外，一般只限于測(cè)定顆粒的平面像。

     激光衍射撒射法粒度分布測(cè)定儀

    前已提及，使用激光測(cè)定顆粒的尺寸分布時(shí)，較粗的顆粒宜用衍射法

，較細(xì)的顆粒宜用散射法。為了擴(kuò)展測(cè)定范圍，最近出產(chǎn)的光學(xué)顆粒測(cè)定

儀，已不再單純使用一種方法，而是將衍射法和散射法合并在同一臺(tái)測(cè)定

儀器中，這便是衍射撒射法粒度分布測(cè)定儀。在這種儀器中，對(duì)于lO,tm以

上的顆粒用Fraunhofer衍射進(jìn)行測(cè)定；對(duì)于0．4—10t~m的顆粒則用Mie散

射理論分析。若要將測(cè)定對(duì)象擴(kuò)展到0．4弘m以下的顆粒，由于在其散射圖

中幾乎看不到因顆粒直徑的不同而引起的差別，所以要從散射圖中得出正

確的數(shù)據(jù)是有困難的。